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编译服务: 纳米科技领域信息门户服务 编译者: 郭文姣 编译时间: 2017-11-13 点击量: 6

我们采用温度依赖性x射线吸收精细结构(XAFS)测量在VO2薄膜的vk边缘检测钒原子周围的局部结构特性。直接比较了同时测量的电阻和XAFS对VO2薄膜的影响,表明在加热过程中,热驱动的结构转换发生在电阻转换之前,同时在冷却过程中同时发生了变化。扩展xafs(EXAFS)分析显示,在r相VO2的{111}方向中,v - o和v - v对的debye - waller因子的显著增加是由于v - v阵列的声子沿同一方向在金属相的方向。在M1和R阶段的v - v对v - v对结构上存在大量的结构性障碍,这说明了v - v阵列在轴上的结构不稳定性。在结构相变的所有原子位点上观察到的异常结构紊乱阻止了V 3d1电子的迁移,导致了m2 -phase VO2中的Mott绝缘子。

——文章发布于2017年11月01日

 

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