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编译服务: 集成电路 编译者: Lightfeng 编译时间: Jan 20, 2019 浏 览 量: 2

在Photonics West德国馆,Instrument Systems公司展示了其用于表征激光光源和显示器的超高分辨率光谱辐射计,即CAS 140CT-HR高分辨率阵列光谱辐射计,专门用于窄带发射源的绝对表征。参考设备CAS 140D构成了系统的基础,并由高分辨率CAS 140CT-HR模型补充。

结合各种配件,可以高精度测量LED模块和显示器的色坐标,色温或显色指数。该公司提供的测量结果为具有高达0.2nm半带宽的高光谱分辨率,并且测量时间短至9ms。与传统技术相比,CAS 140CT-HR更具有优势,在操作中特别稳定和可靠,适用于严格的生产和实验。

高级光谱辐射计可以设置为DTS系统,用于单独的显示测量。使用通过光纤连接到光谱仪的TOP 200望远镜光学探头发射光辐射,并采用柔性光纤连接器,可以更轻松的更换测量适配器,快速配置系统以用于其他应用。

  
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