定量开尔文探针力显微镜（KPFM）测量良好实践指南
- 编译时间：2026-08-14
- 来源机构：英国国家物理研究院
- 编译者：李晓萌
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近日，英国国家物理研究院（NPL）发布《定量开尔文探针力显微镜（KPFM）测量良好实践指南》（No.155）。
KPFM是一种扫描探针显微镜技术，用于以纳米级空间分辨率测量表面电势（或功函数）。尽管KPFM已被广泛使用，但目前尚无关于如何进行这些测量的国际标准，导致在定义和解释方面存在混淆。本实践群体需要一份对当前技术发展水平的明确阐述，以支持KPFM的正确使用和该技术的进一步发展。
该良好实践指南旨在为KPFM用户提供一个清晰且一致的框架，用于开展、理解和解释测量。许多商用和定制仪器均可用于KPFM测量，并采用不同的具体模式。本指南不详细讨论这些差异，也不替代任何特定仪器的技术培训，而是涉及所有KPFM测量共有的基本原理。
原文题目：Quantitative Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM)
原文链接： https://eprintspublications.npl.co.uk/10493/
参考链接： https://eprintspublications.npl.co.uk/10493/
发布时间：2026-07-31
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